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FormFactor/Cascade MPS150-SiPh_硅光子學(xué)手動探針臺

產(chǎn)品詳情

產(chǎn)品簡介

入門級手動探針臺,用于表面耦合和水平邊緣耦合。

FormFactor推出了一種具有成本效益的硅光子測量解決方案,以支持新興應(yīng)用的基礎(chǔ)研究工作。該系統(tǒng)的設(shè)計是FormFactor多年開發(fā)自動光子測量系統(tǒng)的經(jīng)驗 - 現(xiàn)在根據(jù)大學(xué)和其他入門級用戶的需求量身定制。

MPS150-SiPh 可確保光纖精確對準(zhǔn),從而在不發(fā)生物理接觸的情況下將光耦合到設(shè)備中。MPS150-SiPh 采用直觀的設(shè)計,是經(jīng)驗不足的用戶發(fā)現(xiàn)光子學(xué)并獲得最高精度測試結(jié)果的完美解決方案。


產(chǎn)品特性





1. 鏡面技術(shù)

  • 獨特的 DUT 支架可實現(xiàn)高精度水平觀察

  • CalVue 和 DieVue 使用戶能夠調(diào)整光學(xué)探頭以實現(xiàn)最佳測量性能

  • 允許單根光纖和光纖陣列的表面耦合和水平邊緣耦合

傾斜底座定位器

2.傾斜底座定位器


  • 手動或自動調(diào)整 6 個自由度的入射角

  • 利用標(biāo)準(zhǔn)光纖支架

       MPS150-SiPh 探頭系統(tǒng) - 光學(xué)性能


3.光學(xué)性能


  • 系統(tǒng)可以配備FormFactor革命性的eVue數(shù)字成像系統(tǒng)或高性能SlimVue顯微鏡

  • eVue 的革命性設(shè)計在光學(xué)分辨率、數(shù)字變焦和實時動態(tài)視頻之間實現(xiàn)了完美平衡。該系統(tǒng)能夠比以往任何時候都更快、更智能地導(dǎo)航、觀察和測量設(shè)備。

  • SlimVue?顯微鏡減輕了光子學(xué)集成電路(PIC)上小焊盤探測所需的高放大倍率光學(xué)元件的機械干擾。

  • 該系統(tǒng)使用戶能夠比以往更快、更智能地導(dǎo)航、觀察和測量設(shè)備

  • Spectrum 軟件允許用戶測量 z 位移


MPS150-SiPh 模塊化解決方案

4.模塊化解決方案

  • 如果用戶的測量要求發(fā)生變化,可以很容易地更換探針硬件

  • 提供最大的測量靈活性:壓板擴展可配置為執(zhí)行 3 端口光子學(xué)和/或電氣測量

  • 可以配置自動定位器以獲得更快的測量結(jié)果。



MPS150-SiPh 探頭系統(tǒng)


5.易用性

  • 符合人體工程學(xué)的簡單設(shè)計,操作舒適輕松

  • 直觀的操作工作流程使所有經(jīng)驗水平的測量都盡可能簡單

  • 通過拉出式平臺快速且符合人體工程學(xué)地更換 DUT

                                         

產(chǎn)品參數(shù)手冊 下載

                                   

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