硅光在片測(cè)試系統(tǒng)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

硅光在片測(cè)試系統(tǒng)主要由CM300xi-SiPh 300 mm探針臺(tái)組成，CM300xi-SiPh 300 mm探針臺(tái)是市場(chǎng)上首個(gè)經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的集成測(cè)量解決方案，可在安裝后立即進(jìn)行經(jīng)過(guò)生產(chǎn)驗(yàn)證的優(yōu)化光學(xué)測(cè)量，無(wú)需進(jìn)一步開(kāi)發(fā)。該探針臺(tái)支持Contact Intelligence?，這是一種創(chuàng)新技術(shù)，能夠檢測(cè)環(huán)境變化并作出反應(yīng)，以優(yōu)化探針接觸準(zhǔn)確度，從而實(shí)現(xiàn)自主型半導(dǎo)體測(cè)試。

產(chǎn)品特性

• 自動(dòng)化校準(zhǔn)和對(duì)準(zhǔn)

• 自動(dòng)化光學(xué)探針校準(zhǔn)

• 獨(dú)特的樞軸點(diǎn)校準(zhǔn)

• 光學(xué)掃描、梯度搜索功能和子晶片管理用于實(shí)現(xiàn)組合型光學(xué)和自動(dòng)化電氣探測(cè)

• 采用光導(dǎo)技術(shù)的可再配置光纖臂

• 針對(duì)工程和批量環(huán)境的靈活性

• 可在單個(gè)光纖和光纖陣列之間進(jìn)行配置

• 專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)的Z 軸位移套件可調(diào)節(jié)晶圓和光纖之間的距離

典型配置

CM300xi-SiPh 300 mm探針臺(tái)

光學(xué)顯微鏡

光纖準(zhǔn)直系統(tǒng)

產(chǎn)品應(yīng)用

硅光子學(xué)