產(chǎn)品簡介
硅光在片測試系統(tǒng)主要由CM300xi-SiPh 300 mm探針臺組成,CM300xi-SiPh 300 mm探針臺是市場上首個經(jīng)過驗證的集成測量解決方案,可在安裝后立即進行經(jīng)過生產(chǎn)驗證的優(yōu)化光學測量,無需進一步開發(fā)。該探針臺支持Contact Intelligence?,這是一種創(chuàng)新技術(shù),能夠檢測環(huán)境變化并作出反應(yīng),以優(yōu)化探針接觸準確度,從而實現(xiàn)自主型半導體測試。
產(chǎn)品特性
典型配置
CM300xi-SiPh 300 mm探針臺
光學顯微鏡
光纖準直系統(tǒng)
產(chǎn)品應(yīng)用
硅光子學