產(chǎn)品簡介
高壓在片測試系統(tǒng)專為研發(fā)設(shè)備表征/建?;蚶a(chǎn)應(yīng)用而設(shè)計(jì),可在-60°C 至 +300°C溫度范圍內(nèi)進(jìn)行精確的電氣測量,適用于超低噪聲,DC,RF,mmW和THz應(yīng)用,并具有半自動和全自動操作,可用于最快時(shí)間獲取準(zhǔn)確數(shù)據(jù)。
采用PureLine、AutoGuard 和新一代 MicroChamber 技術(shù)實(shí)現(xiàn)高準(zhǔn)確度 IV/CV、低噪聲和 1/f 測量的最佳解決方案
可配置功率電平:
? 200V 至 3kV
? 1A 至 100A
寬動態(tài)范圍:
? μV 至 3kV
? fA 至 100A
全量程容-電壓 (C-V) 能力:
? fF 至 μF
? 支持2、3 和 4 端器件
? 高達(dá)3kV DC 偏移
典型配置
2600-PCT-xB 高功率參數(shù)測試儀
SUMMIT200全自動探針臺
產(chǎn)品應(yīng)用
IV/CV,RF/mmW,失效分析,WLR,MEMS
MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件開發(fā)應(yīng)用