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直流在片測試系統(tǒng)

直流在片測試系統(tǒng)
產(chǎn)品詳情


Easy – flexible – future proof:Customize your 150 mm probe station based on flexible modules at an incredible price.

產(chǎn)品簡介

對于幾乎所有的器件類型和半導(dǎo)體技術(shù), DC參數(shù)測量貫穿于半導(dǎo)體產(chǎn)品開發(fā)和生產(chǎn)的每個階段。精確且可重復(fù)的直流參數(shù)測量(IV,CV,脈沖和高功率)可降低不確定性。

測試完整性面臨各方面的威脅

大量因素可能會破壞直流電性測試。由于外部環(huán)境的影響,電噪聲可能出現(xiàn)在數(shù)據(jù)中 - 例如,來自蜂窩網(wǎng)絡(luò),無線電/電視塔和附近電子設(shè)備的電磁干擾和射頻干擾,以及溫度和振動等物理因素。

測試系統(tǒng)內(nèi)部的因素也會影響結(jié)果 - 例如,設(shè)計不良的信號路徑產(chǎn)生的漏電流,電阻或熱電壓偏移,材料能量存儲以及來自于基本的探針臺系統(tǒng)組件的電噪聲,如電源,平臺電機,溫控系統(tǒng)和電腦。

如果管理不當,這些因素會導(dǎo)致數(shù)據(jù)偏移和整個樣本集的統(tǒng)計分布增加,從而嚴重降低電性能。糟糕的數(shù)據(jù)是昂貴的 - 重新測試的時間,額外的建模周期,延遲的產(chǎn)品發(fā)布以及性能不佳的產(chǎn)品。


產(chǎn)品特性

同軸電纜–直流參數(shù)測試,低至pA級別

  • 可移動壓板,高度調(diào)節(jié)為40 mm,接觸/分離行程為200μm,重復(fù)精度為±1μm

  • 卡盤載物臺具有可調(diào)節(jié)的摩擦力和載物臺鎖,獨特的Z卡盤調(diào)節(jié)和90毫米拉出

  • 電磁定位器具有1μm的功能分辨率和3個帶有精密滾珠軸承的線性軸


產(chǎn)品手冊 下載


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