產(chǎn)品簡(jiǎn)介
Santec對(duì)于快速掃描測(cè)試系統(tǒng)有著嚴(yán)格的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，利用以高分辨率和高精度為標(biāo)準(zhǔn)的高速分析測(cè)試解決方案。結(jié)合Santec的TSL系列可調(diào)諧激光器與光功率計(jì)（MPM-210或MPM-200）、數(shù)據(jù)模塊（PCU-100）和自定義軟件相組合，完整的掃描測(cè)試系統(tǒng)優(yōu)化WDL和PDL測(cè)量用于研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)境。
Santec快速掃描測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)實(shí)時(shí)記錄可以同時(shí)獲取可調(diào)激光器的輸出功率與經(jīng)過(guò)DUT的傳輸功率，從而精確計(jì)算出WDL/PDL的數(shù)據(jù)。采用Mueller矩陣生成快速的PDL測(cè)量方案。
此系統(tǒng)也可簡(jiǎn)化為使用Santec 數(shù)據(jù)采集模塊(SPU-100)搭配其他光學(xué)的功率計(jì)或探測(cè)器，可廣泛用于WDL測(cè)試。
通過(guò)采樣和縮放算法在保持測(cè)試方案完整性上可以保持最大測(cè)試性能輸出。
另外，該系統(tǒng)尤其適用于DWDM和高Q光子器件光譜特性的測(cè)試。通過(guò)快速掃描和精確測(cè)量可有效節(jié)省時(shí)間，以確保測(cè)試設(shè)備的完整性和有效性。
產(chǎn)品特性
· 實(shí)時(shí)功率校正
1 數(shù)字精確/ PDL特性測(cè)試
–高功率重復(fù)性＜±0.02dB
–高重復(fù)性±0.01dB PDL
2 激光源功率自動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)化
· 調(diào)整方法
1 高波長(zhǎng)分辨率＆高精度
2 縮短測(cè)量時(shí)間
· 支持多通道測(cè)量
· 支持LabVIEW控制軟件
1 便于建立測(cè)量參數(shù)
2 數(shù)據(jù)分析
產(chǎn)品應(yīng)用
· 光學(xué)器件和模塊特性
--可調(diào)諧濾波器、光交叉波分復(fù)用器、光纖布拉格光柵（FBG） 、連接器
· 分離器、隔離器、開(kāi)關(guān)
--WSS、波長(zhǎng)阻斷器
--DWDM器件
· 光學(xué)材料特性
· 光學(xué)光譜
