產(chǎn)品簡介
Santec對(duì)于快速掃描測試系統(tǒng)有著嚴(yán)格的測試標(biāo)準(zhǔn)，利用以高分辨率和高精度為標(biāo)準(zhǔn)的高速分析測試解決方案。結(jié)合Santec的TSL系列可調(diào)諧激光器與光功率計(jì)（MPM-210或MPM-200）、數(shù)據(jù)模塊（PCU-100）和自定義軟件相組合，完整的掃描測試系統(tǒng)優(yōu)化WDL和PDL測量用于研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)境。
Santec快速掃描測試系統(tǒng)通過實(shí)時(shí)記錄可以同時(shí)獲取可調(diào)激光器的輸出功率與經(jīng)過DUT的傳輸功率，從而精確計(jì)算出WDL/PDL的數(shù)據(jù)。采用Mueller矩陣生成快速的PDL測量方案。
此系統(tǒng)也可簡化為使用Santec 數(shù)據(jù)采集模塊(SPU-100)搭配其他光學(xué)的功率計(jì)或探測器，可廣泛用于WDL測試。
通過采樣和縮放算法在保持測試方案完整性上可以保持最大測試性能輸出。
另外，該系統(tǒng)尤其適用于DWDM和高Q光子器件光譜特性的測試。通過快速掃描和精確測量可有效節(jié)省時(shí)間，以確保測試設(shè)備的完整性和有效性。
產(chǎn)品特性
· 實(shí)時(shí)功率校正
1 數(shù)字精確/ PDL特性測試
–高功率重復(fù)性＜±0.02dB
–高重復(fù)性±0.01dB PDL
2 激光源功率自動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)化
· 調(diào)整方法
1 高波長分辨率＆高精度
2 縮短測量時(shí)間
· 支持多通道測量
· 支持LabVIEW控制軟件
1 便于建立測量參數(shù)
2 數(shù)據(jù)分析
產(chǎn)品應(yīng)用
· 光學(xué)器件和模塊特性
--可調(diào)諧濾波器、光交叉波分復(fù)用器、光纖布拉格光柵（FBG） 、連接器
· 分離器、隔離器、開關(guān)
--WSS、波長阻斷器
--DWDM器件
· 光學(xué)材料特性
· 光學(xué)光譜
