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近場EMI測試系統(tǒng)

近場EMI測試系統(tǒng)
產(chǎn)品詳情


7405近場EMI測試套件


產(chǎn)品簡介

  • ETS-Lindgren 7405型近場探頭套件包括三個磁場和兩個電場無源近場探,用于解決PCB板級EMI發(fā)射定位排查。   

  • 探頭采用工業(yè)級注塑成型,堅固耐用,重量輕,結(jié)構(gòu)緊湊。

  • 近場探頭是快速、高效進行電磁兼容/電磁干擾分析的重要工具。

近場EMI測試系統(tǒng)圖示.png


產(chǎn)品特性

·獲取輻射成員的來源和位置信息。

·通過高性價比的設(shè)備來解決EMC/EMI問題,從而降低測試費用。

·通過預(yù)先篩選各種解決方案來減少測試時間。


產(chǎn)品應(yīng)用

EMI定位排查


規(guī)格參數(shù)


Probe

Primary Sensor Type

E/H or H/E Rejection

Upper Resonant Frequency

901 6-cm loop

H-Field

41 dB

790 MHz

902 3-cm loop

H-Field

29 dB

1.5 GHz

903 1-cm loop

H-Field

11 dB

2.3 GHz

904 3.6-cm ball

E-Field

30 dB

>1 GHz

905 6-mm stub tip

E-Field

30 dB

>3 GHz

   


Preamplifier

Frequency

Gain

100 kHz

35.5 dB

1 MHz

38.1 dB

100 MHz

37.2 dB

1 GHz

32.5 dB

2 GHz

25.0 dB

3 GHz

13.0 dB




**備注:此產(chǎn)品已經(jīng)停產(chǎn),升級/替代產(chǎn)品請咨詢客服。






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