T-Wave 探針

產(chǎn)品簡介

高達1.1THz毫米波（mmW）器件和材料的晶圓級電性測量。

業(yè)界領(lǐng)先的毫米和亞毫米波長器件在片測試性能。T-Wave 探針設(shè)立了毫米波器件特性分析的業(yè)界標準。這款探針在測試金pad時提供了低插入損耗和低接觸電阻。具有極佳的針尖可見性。能夠?qū)?1.1 THz 器件進行特性分析。典型插入損耗 < 1.5 dB（在 140 GHz 至 220 GHz 頻率范圍內(nèi)）。集成了低阻型 GPPO 連接器和DC bias-T。

產(chǎn)品特性

• 低插入損耗

• 低接觸電阻

• 140 GHz 至 1.1 THz 版本

• 探針間距窄至 25 μm

• 采用光刻方法確定的探針針尖

• 鎳觸點