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150mm探針臺(tái)200mm探針臺(tái)300mm探針臺(tái)大功率探針臺(tái)硅光探針臺(tái)低溫探針臺(tái)探針與針座探針臺(tái)>功率放大器場(chǎng)強(qiáng)測(cè)量電波暗室混響室OTA測(cè)試暗室橫電磁波室GJB151A/B標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試RTCA DO-160G標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試電磁兼容民用設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容測(cè)試>失效分析測(cè)試設(shè)備半導(dǎo)體封裝設(shè)備信號(hào)源頻譜分析儀/信號(hào)分析儀矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀功率探頭&功率計(jì)示波器阻抗調(diào)諧器電源直流測(cè)試誤碼儀采樣示波器光源光開關(guān)光濾波器光衰減器光功率計(jì)光譜儀光波元器件分析儀時(shí)鐘恢復(fù)(CDR)光波長(zhǎng)計(jì)OTDR光芯片測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試儀器儀表>Maury Microwave射頻微波測(cè)試附件國產(chǎn)射頻微波測(cè)試附件電磁兼容測(cè)試附件FormFactor/Cascade探針臺(tái)測(cè)試附件測(cè)試附件>THz在片測(cè)試系統(tǒng)WAT測(cè)試系統(tǒng)高壓在片測(cè)試系統(tǒng)光電在片測(cè)試系統(tǒng)硅光在片測(cè)試系統(tǒng)射頻在片測(cè)試系統(tǒng)失效分析在片測(cè)試系統(tǒng)在片負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)直流在片測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)試軟件晶圓在片測(cè)試系統(tǒng)>AM3200系列Pulsed IV測(cè)試系統(tǒng)MT1000/MT2000 系列有源負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)多通道超寬帶信號(hào)生成和測(cè)試解決方案數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)備微波射頻前端半實(shí)物協(xié)同仿真平臺(tái)無源-有源混合負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)射頻微波測(cè)試系統(tǒng)和解決方案>電波暗室GTEM橫電磁波室混響室OTA測(cè)試暗室汽車整車及零部件EMC測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容民用設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容測(cè)試系統(tǒng)和解決方案>維修租賃現(xiàn)貨代測(cè)行業(yè)資訊社會(huì)新聞公司簡(jiǎn)介聯(lián)系我們招賢納士

Apreo 2 SEM掃描電子顯微鏡

Apreo 2 SEM掃描電子顯微鏡
產(chǎn)品詳情


產(chǎn)品簡(jiǎn)介

新的 Thermo Scientific Apreo 2 SEM 經(jīng)擴(kuò)展可訪問高性能成像以及針對(duì)所有級(jí)別顯微鏡專業(yè)知識(shí)的分析。憑借 Thermo Scientific ColorSEM 技術(shù),一種獨(dú)特的實(shí)時(shí)元素成像功能,可以通過最直觀的界面隨時(shí)獲得組分信息。ColorSEM 技術(shù)消除了與典型 EDS 實(shí)施相關(guān)的所有麻煩,為您提供前所未有的結(jié)果時(shí)間和易用性。

憑借 Thermo Scientific SmartAlign 技術(shù)(一種光學(xué)系統(tǒng)、可以自己對(duì)齊),Apreo 2 SEM 對(duì)用戶和實(shí)驗(yàn)室管理人員提出了更小的要求。此外,Apreo 2 SEM 采用 Thermo Scientific FLASH 技術(shù),可實(shí)現(xiàn)圖像微調(diào)過程的自動(dòng)化。FLASH 技術(shù)對(duì)鏡頭居中、消像散器和圖像的最終焦點(diǎn)執(zhí)行任何必要的校正。這些技術(shù)的組合意味著電子顯微鏡的新用戶可以獲得 Apreo 2 SEM 的高端性能。此外、Apreo 2 SEM 是唯一一款在 10 mm 分析工作距離具備 1 納米分辨率的 SEM。


產(chǎn)品特性

  • 范圍廣泛的樣品類型

  • 實(shí)時(shí)定量 EDS

  • 長(zhǎng)工作距離

  • SmartAlign 技術(shù)


產(chǎn)品應(yīng)用

半導(dǎo)體失效分析


規(guī)格參數(shù)


Apreo 2S

Apreo 2C

分辨率

1 kV 下 0.9 nm

1 kV 下 0.8 nm(光束減速)

1 kV 下 1.0 nm、工作距離為 10 mm (光束減速)

500 kV 下 0.8 nm(光束減速)

200 kV 下 1.2 nm(光束減速)

1 kV 下 1.2 nm

1 kV 下 1.0 nm(光束減速)

500 kV 下 1.2 nm(光束減速)

標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)器

ETD、T1、T2、T3、IR-CCD、Nav-Cam+

ETD、T1、T2、IR-CCD、Nav-Cam+

可選檢測(cè)器

DBS、LVD、DBS-GAD、STEM 3+、RGB CLD、EDS、EBSD、WDS、拉曼、EBIC 等。

著陸能量范圍

20 eV – 30 keV

載物臺(tái)偏倚(光束減速)

-4000 V 至 +600 V 標(biāo)準(zhǔn)(每個(gè)系統(tǒng))

低真空模式

可選:10 – 500 Pa 腔室壓力

載物臺(tái)

5-軸電動(dòng)共心載物臺(tái),110 x 110 mm2,105° 傾斜范圍。最大樣品重量:未傾斜位置,5 kg。

最大射束電流

50 nA(也可配置為 400 nA)

腔室

340 mm 內(nèi)寬,12 個(gè)端口,最多三個(gè)同步 EDS 檢測(cè)器(兩個(gè)在 180° 處)、共面 EDS/EBSD 與載物臺(tái)的傾斜軸正交



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