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150mm探針臺200mm探針臺300mm探針臺大功率探針臺硅光探針臺低溫探針臺探針與針座探針臺功率放大器場強(qiáng)測量電波暗室混響室OTA測試暗室橫電磁波室GJB151A/B標(biāo)準(zhǔn)測試RTCA DO-160G標(biāo)準(zhǔn)測試電磁兼容民用設(shè)備測試系統(tǒng)電磁兼容測試失效分析測試設(shè)備半導(dǎo)體封裝設(shè)備信號源頻譜分析儀/信號分析儀矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀功率探頭&功率計(jì)示波器阻抗調(diào)諧器電源直流測試誤碼儀采樣示波器光源光開關(guān)光濾波器光衰減器光功率計(jì)光譜儀光波元器件分析儀時(shí)鐘恢復(fù)(CDR)光波長計(jì)OTDR光芯片測試系統(tǒng)測試儀器儀表Maury Microwave射頻微波測試附件國產(chǎn)射頻微波測試附件電磁兼容測試附件FormFactor/Cascade探針臺測試附件測試附件THz在片測試系統(tǒng)WAT測試系統(tǒng)高壓在片測試系統(tǒng)光電在片測試系統(tǒng)硅光在片測試系統(tǒng)射頻在片測試系統(tǒng)失效分析在片測試系統(tǒng)在片負(fù)載牽引測試系統(tǒng)直流在片測試系統(tǒng)自動測試軟件晶圓在片測試系統(tǒng)AM3200系列Pulsed IV測試系統(tǒng)MT1000/MT2000 系列有源負(fù)載牽引測試系統(tǒng)電源自動測試系統(tǒng)多通道超寬帶信號生成和測試解決方案數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)備微波射頻前端半實(shí)物協(xié)同仿真平臺無源-有源混合負(fù)載牽引測試系統(tǒng)射頻微波測試系統(tǒng)和解決方案電波暗室GTEM橫電磁波室混響室OTA測試暗室汽車整車及零部件EMC測試系統(tǒng)電磁兼容民用設(shè)備測試系統(tǒng)電磁兼容測試系統(tǒng)和解決方案維修租賃現(xiàn)貨代測行業(yè)資訊社會新聞公司簡介聯(lián)系我們招賢納士

STS半導(dǎo)體測試系統(tǒng)

產(chǎn)品詳情


產(chǎn)品簡介

STS是一款可直接用于量產(chǎn)環(huán)境的半導(dǎo)體測試系統(tǒng),適用于RF、混合信號和MEMS半導(dǎo)體器件生產(chǎn)測試,有助于提高吞吐量,降低測試成本。STS可用于生產(chǎn)測試車間,支持封裝測試晶圓探針測試,而且采用標(biāo)準(zhǔn)的彈簧針排列,可實(shí)現(xiàn)高度可移植的測試程序和負(fù)載板。STS具有一套統(tǒng)一的軟件工具,可以快速有效地開發(fā)、調(diào)試和部署測試程序。

STS半導(dǎo)體測試系統(tǒng)PXI平臺、測試管理軟件和LabVIEW圖形編程結(jié)合在一個(gè)測試整機(jī)中。它的包含了生產(chǎn)測試器的所有關(guān)鍵部件,包括系統(tǒng)控制器、直流、交流和射頻儀器儀表。STS半導(dǎo)體測試系統(tǒng)利用超過1,500多種模塊化儀器,獲得一流的測量性能,覆蓋從直流到毫米波的全部頻段。采用從實(shí)驗(yàn)室到生產(chǎn)測試均適用且業(yè)界領(lǐng)先的高性能儀器,簡化數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)并加快產(chǎn)品上市。PXI的快速測試速度、出色的正常運(yùn)行時(shí)間、更寬的測試覆蓋率和極具競爭力的成本,均可幫助用戶降低總體成本。通過采用通用的軟件框架,研發(fā)階段的測試?yán)桃部蓱?yīng)用到量產(chǎn)測試中,從而節(jié)省了大量時(shí)間。


產(chǎn)品特性

全面的RF、數(shù)字和直流儀器產(chǎn)品組合您可以自定義新的STS配置并升級現(xiàn)有測試系統(tǒng),以納入您需要的儀器資源,同時(shí)保持測試程序和負(fù)載板的可移植性。

統(tǒng)一的軟件體驗(yàn)STS提供了標(biāo)準(zhǔn)的軟件來開發(fā)、調(diào)試和部署多級測試程序,包括引腳/通道匹配圖、測試閾值導(dǎo)入/導(dǎo)出STDF報(bào)告。

現(xiàn)成的測試代碼—使用拖放式軟件模板來完成常見的半導(dǎo)體測試任務(wù),比如連續(xù)性檢查、泄漏測試或數(shù)字圖形載入,或者RF波形生成或采集以測試5G NR等最新無線標(biāo)準(zhǔn)。

測試系統(tǒng)集成標(biāo)準(zhǔn)接口和連接設(shè)施可允許與控制器以及芯片搬運(yùn)機(jī)械臂無縫集成來進(jìn)行封裝測試,也可與晶圓探針臺集成進(jìn)行晶圓測試。

系統(tǒng)校準(zhǔn)—可對系統(tǒng)級數(shù)字和直流資源(比如彈簧探頭接口等)和直流資源(比如RF盲插等)進(jìn)行現(xiàn)場校準(zhǔn),并可選擇使用矢量反嵌文件來校準(zhǔn)DUT。

服務(wù)和支持—工程服務(wù)、引導(dǎo)服務(wù)、培訓(xùn)和技術(shù)支持均可幫助您快速設(shè)置和啟動系統(tǒng)。


產(chǎn)品應(yīng)用

RF驗(yàn)證和特性分析

混合信號驗(yàn)證和特性分析

半導(dǎo)體量產(chǎn)測試分析


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