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150mm探針臺200mm探針臺300mm探針臺大功率探針臺硅光探針臺低溫探針臺探針與針座探針臺功率放大器場強(qiáng)測量電波暗室混響室OTA測試暗室橫電磁波室GJB151A/B標(biāo)準(zhǔn)測試RTCA DO-160G標(biāo)準(zhǔn)測試電磁兼容民用設(shè)備測試系統(tǒng)電磁兼容測試失效分析測試設(shè)備半導(dǎo)體封裝設(shè)備信號源頻譜分析儀/信號分析儀矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀功率探頭&功率計(jì)示波器阻抗調(diào)諧器電源直流測試誤碼儀采樣示波器光源光開關(guān)光濾波器光衰減器光功率計(jì)光譜儀光波元器件分析儀時(shí)鐘恢復(fù)(CDR)光波長計(jì)OTDR光芯片測試系統(tǒng)測試儀器儀表Maury Microwave射頻微波測試附件國產(chǎn)射頻微波測試附件電磁兼容測試附件FormFactor/Cascade探針臺測試附件測試附件THz在片測試系統(tǒng)WAT測試系統(tǒng)高壓在片測試系統(tǒng)光電在片測試系統(tǒng)硅光在片測試系統(tǒng)射頻在片測試系統(tǒng)失效分析在片測試系統(tǒng)在片負(fù)載牽引測試系統(tǒng)直流在片測試系統(tǒng)自動(dòng)測試軟件晶圓在片測試系統(tǒng)AM3200系列Pulsed IV測試系統(tǒng)MT1000/MT2000 系列有源負(fù)載牽引測試系統(tǒng)電源自動(dòng)測試系統(tǒng)多通道超寬帶信號生成和測試解決方案數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)備微波射頻前端半實(shí)物協(xié)同仿真平臺無源-有源混合負(fù)載牽引測試系統(tǒng)射頻微波測試系統(tǒng)和解決方案電波暗室GTEM橫電磁波室混響室OTA測試暗室汽車整車及零部件EMC測試系統(tǒng)電磁兼容民用設(shè)備測試系統(tǒng)電磁兼容測試系統(tǒng)和解決方案維修租賃現(xiàn)貨代測行業(yè)資訊社會(huì)新聞公司簡介聯(lián)系我們招賢納士

Cascade EPS150Tesla 6英寸手動(dòng)探針臺

Cascade EPS150Tesla 6英寸手動(dòng)探針臺
產(chǎn)品詳情
MPS150 - 150 mm Probe Station - Configuration Example:High Powe

晶圓上功率器件的表征

  • 優(yōu)化的測量設(shè)置

  • 優(yōu)化的信號路徑

  • 各種不同分析儀的無縫集成

  • 具有表面涂層的Triax卡盤,用于低泄漏測量,最高3kV,可提供高隔離度

  • 高電流測量,最高接觸電流100 A,接觸電阻最低

  • 針對 10 kV(同軸電纜)工作電壓的任選升級

  • 薄晶圓處理能力

  • 電弧防護(hù)和先進(jìn)的接地概念

  • 帶互鎖的屏蔽罩,用于EMI /不透光環(huán)境

  • 為使用者和器件提供了針對高壓電擊的最大程度保護(hù)

產(chǎn)品手冊 下載


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