射頻測(cè)試高達(dá)67 GHz
提供三種探測(cè)技術(shù):無(wú)限探頭,ACP探針,| Z | 探測(cè)
包含了匹配的電纜和襯底
RF 芯片載物臺(tái)的表面平坦度為 ±3 μm
獨(dú)特的 200 μm 探針臺(tái)板接觸/分離行程,重復(fù)接觸準(zhǔn)確度 ≤± 1 μm
WinCal XE 校準(zhǔn)軟件
產(chǎn)品手冊(cè) 下載