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150mm探針臺(tái)200mm探針臺(tái)300mm探針臺(tái)大功率探針臺(tái)硅光探針臺(tái)低溫探針臺(tái)探針與針座探針臺(tái)功率放大器場(chǎng)強(qiáng)測(cè)量電波暗室混響室OTA測(cè)試暗室橫電磁波室GJB151A/B標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試RTCA DO-160G標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試電磁兼容民用設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容測(cè)試失效分析測(cè)試設(shè)備半導(dǎo)體封裝設(shè)備信號(hào)源頻譜分析儀/信號(hào)分析儀矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀功率探頭&功率計(jì)示波器阻抗調(diào)諧器電源直流測(cè)試誤碼儀采樣示波器光源光開(kāi)關(guān)光濾波器光衰減器光功率計(jì)光譜儀光波元器件分析儀時(shí)鐘恢復(fù)(CDR)光波長(zhǎng)計(jì)OTDR光芯片測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試儀器儀表Maury Microwave射頻微波測(cè)試附件國(guó)產(chǎn)射頻微波測(cè)試附件電磁兼容測(cè)試附件FormFactor/Cascade探針臺(tái)測(cè)試附件測(cè)試附件THz在片測(cè)試系統(tǒng)WAT測(cè)試系統(tǒng)高壓在片測(cè)試系統(tǒng)光電在片測(cè)試系統(tǒng)硅光在片測(cè)試系統(tǒng)射頻在片測(cè)試系統(tǒng)失效分析在片測(cè)試系統(tǒng)在片負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)直流在片測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)試軟件晶圓在片測(cè)試系統(tǒng)AM3200系列Pulsed IV測(cè)試系統(tǒng)MT1000/MT2000 系列有源負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)多通道超寬帶信號(hào)生成和測(cè)試解決方案數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)備微波射頻前端半實(shí)物協(xié)同仿真平臺(tái)無(wú)源-有源混合負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)射頻微波測(cè)試系統(tǒng)和解決方案電波暗室GTEM橫電磁波室混響室OTA測(cè)試暗室汽車(chē)整車(chē)及零部件EMC測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容民用設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容測(cè)試系統(tǒng)和解決方案維修租賃現(xiàn)貨代測(cè)行業(yè)資訊社會(huì)新聞公司簡(jiǎn)介聯(lián)系我們招賢納士
產(chǎn)品分類(lèi)

針座

產(chǎn)品詳情


產(chǎn)品簡(jiǎn)介


  • 直流,射頻和光學(xué)探頭定位,實(shí)現(xiàn)最高精度測(cè)量。

  • FormFactor提供各種手動(dòng)和電動(dòng)探頭定位器,適用于從直流到太赫茲測(cè)量等的任何應(yīng)用。

  • FormFactor的定位器具有高穩(wěn)定性和高精度,可實(shí)現(xiàn)精確,無(wú)間隙和可重復(fù)的探針?lè)胖?- 從簡(jiǎn)單的IV / CV測(cè)量到極具挑戰(zhàn)性的測(cè)量任務(wù)。


針座類(lèi)別

型號(hào)

外觀(guān)

適配探針

直流針座

DPP105

直流針座DPP105.png

PTT直流探針

直流針座

DPP205/DPP210/DPP220

直流針座DPP205-DPP210-DPP220.png

DCP直流探針

直流針座

DPP305/DPP310

直流針座DPP305-DPP310.png

DCP直流探針

直流針座

DPP450

直流針座DPP450.png

DCP直流探針

真空/低溫針座VCP110

真空-低溫針座VCP110.png

高性能直流/射頻探針

射頻針座

RPP210

射頻針座RPP210.png

Infinity/ACP/|Z|探針

射頻針座

RPP304

射頻針座RPP304.png

Infinity/ACP/|Z| /T-Wave探針

射頻針座

RPP305

射頻針座RPP305.png

Infinity/ACP/|Z|/T-Wave探針

射頻針座

mmW Large Area Positioner

射頻針座mmW Large Area Positioner.png

Infinity/ACP/T-Wave探針

射頻針座

RPP504

射頻針座RPP504.png

Infinity/ACP/|Z|/T-Wave探針



產(chǎn)品應(yīng)用


器件表征和建模         噪聲測(cè)量(1/f)         毫米波(mmW)和太赫茲(THz)         大功率

    器件表征和建模                  噪聲測(cè)量(1/f)           毫米波(mmW)和                    大功率

                                                                                      太赫茲(THz)   



失效分析         硅光測(cè)量         MEMS         真空和低溫

        失效分析                              硅光測(cè)量                           MEMS                          真空和低溫



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