直流探針

DCP 100系列探針

• 具有低噪聲電氣性能的高質(zhì)量結構

• 用于實現(xiàn)簡便的四點測量的開爾文 (Kelvin) 版本

• 可替換的同軸探針針尖 ，可以選擇針尖的半徑，并對探針針尖提供了全面的電氣防護

• SSMC 50 連接器

• 超低、fA 和 fF 測量（-65 o C 至 150 o C）

DCP-HTR系列探針

• 超低、fA 級別電流和 fF 級別電容測量（-65 °C 至 + 300 °C）

• 保證提供受到全面保護的測量（至 fA 和 fF 級別）

• 單獨的連接器為準開爾文 (Kelvin) 和 CV 測量提供了加壓感測連接

• 可探查不同材料和尺寸的焊盤

• 可快速更換磨損的探針，無需借助工具

高電流探針

• 實現(xiàn)了高達 60A 脈沖 / 10A DC 的晶圓探查

• 創(chuàng)新的多指尖設計提供了電流的均勻分配

• 支持高達 500V 的電壓

• 可替換的鎢探針針尖

• 溫度范圍：-55oC 至 300oC

• 焊盤-針尖結點上的極小接觸電阻用以減少測量期間的發(fā)熱，且針測印跡較少

• 可防止發(fā)生熱失控

• 能夠在高于以往的電流條件下完成晶圓上器件測量

• 少量的磨砂最大限度地減少了對鋁焊盤的損壞

• 小的占位面積 —— 針尖適合 1mm 焊盤

高壓探針

• 高達 3000 V 的同軸和三軸測量

• 具有低噪聲電氣性能的高質(zhì)量結構

• 可替換的探針針尖（多種針尖尺寸）

• 溫度范圍：-55oC 至 300oC

• 三軸測量可確保對關斷狀態(tài)下的器件漏電情況有更好的了解

• 高度可靠、穩(wěn)定和可重復的測量

• 作為完整測量解決方案的一部分進行了整體設計

超高功率探針

（UHP）

• 利用單次降落探查實現(xiàn)了高達 10000 V 和 300 A 脈沖（在并行配置中為 600 A）的同軸測量

• 運用創(chuàng)新的多指尖設計實現(xiàn)了高電流的均勻分配

• 可兼容 Tesla 200/300 mm 功率器件特性分析系統(tǒng)

• 通過單次降落探查對高電壓和高電流情況進行測試減少了測量時間

• 可針對眾多的焊盤尺寸和測試電流進行準確的特性分析，對焊盤的損傷微乎其微，接觸電阻也極小

• 可在寬溫度范圍內(nèi)（-55°C 至 +300°C）提供安全、可靠和可重復的高電流 / 電壓測量

DC-Q探針

電源旁路電感：8 nH

標準的 DCQ 探針具有平頭尖端針，材料為鍍鎳鎢或陂青銅 (BeCu)，直徑為 0.75 mil、1.0 mil 和 1.5 mil。

支持共線和非標準針配置

多達 16 個 DC 針（標準配置）；最多 24 個 DC 針（定制配置）

非常適合對整個電路進行探查以完成功能測試

DC 探針能夠向被測試電路提供電源或慢邏輯

Eye-Pass

探針

高性能電源旁路提供了低阻抗和無諧振的連接（至 20 GHz）

RF 帶寬至 500 MHz

長久的探針壽命：> 25 萬次接觸探查

陂青銅針尖（用于金焊盤）或鎢針尖（用于鋁焊盤）

寬帶寬模擬電路的無振蕩測試

與 ACP 系列探針一起使用，以為已知合格裸片提供功能性全速測試

混合多種觸點類型：接地、電源（標準或 Eye-Pass）、邏輯 / 信號

在鋁焊盤上具有低且可重復的接觸電阻（在 Al 焊盤上 < 25 Ω，在 Au 焊盤上 < 0.01 Ω）

WPH探針

全半徑、鍍鎳鎢針

電源旁路電感：16 nH

支持共線和非標準針配置

支持多達 12 個陶瓷刀片 DC 針 / 觸點

非常適合對整個電路進行探查以完成功能測試

DC 探針能夠向被測試電路提供電源或慢邏輯