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150mm探針臺(tái)200mm探針臺(tái)300mm探針臺(tái)大功率探針臺(tái)硅光探針臺(tái)低溫探針臺(tái)探針與針座探針臺(tái)功率放大器場(chǎng)強(qiáng)測(cè)量電波暗室混響室OTA測(cè)試暗室橫電磁波室GJB151A/B標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試RTCA DO-160G標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試電磁兼容民用設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容測(cè)試失效分析測(cè)試設(shè)備半導(dǎo)體封裝設(shè)備信號(hào)源頻譜分析儀/信號(hào)分析儀矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀功率探頭&功率計(jì)示波器阻抗調(diào)諧器電源直流測(cè)試誤碼儀采樣示波器光源光開(kāi)關(guān)光濾波器光衰減器光功率計(jì)光譜儀光波元器件分析儀時(shí)鐘恢復(fù)(CDR)光波長(zhǎng)計(jì)OTDR光芯片測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試儀器儀表Maury Microwave射頻微波測(cè)試附件國(guó)產(chǎn)射頻微波測(cè)試附件電磁兼容測(cè)試附件FormFactor/Cascade探針臺(tái)測(cè)試附件測(cè)試附件THz在片測(cè)試系統(tǒng)WAT測(cè)試系統(tǒng)高壓在片測(cè)試系統(tǒng)光電在片測(cè)試系統(tǒng)硅光在片測(cè)試系統(tǒng)射頻在片測(cè)試系統(tǒng)失效分析在片測(cè)試系統(tǒng)在片負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)直流在片測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)試軟件晶圓在片測(cè)試系統(tǒng)AM3200系列Pulsed IV測(cè)試系統(tǒng)MT1000/MT2000 系列有源負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)多通道超寬帶信號(hào)生成和測(cè)試解決方案數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設(shè)備微波射頻前端半實(shí)物協(xié)同仿真平臺(tái)無(wú)源-有源混合負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)射頻微波測(cè)試系統(tǒng)和解決方案電波暗室GTEM橫電磁波室混響室OTA測(cè)試暗室汽車(chē)整車(chē)及零部件EMC測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容民用設(shè)備測(cè)試系統(tǒng)電磁兼容測(cè)試系統(tǒng)和解決方案維修租賃現(xiàn)貨代測(cè)行業(yè)資訊社會(huì)新聞公司簡(jiǎn)介聯(lián)系我們招賢納士
產(chǎn)品分類(lèi)

X光檢測(cè)設(shè)備

產(chǎn)品詳情


產(chǎn)品簡(jiǎn)介

YXLON Cougar EVO被設(shè)計(jì)用于為SMT,半導(dǎo)體和實(shí)驗(yàn)室封裝應(yīng)用領(lǐng)域提供同級(jí)別產(chǎn)品中最佳的檢測(cè)解決方案。通過(guò)優(yōu)異的軟件和硬件,EVO系統(tǒng)有能力比現(xiàn)今市場(chǎng)上其他的同類(lèi)系統(tǒng)生產(chǎn)出更高質(zhì)量且可重復(fù)的結(jié)果。

尺寸緊湊且經(jīng)濟(jì)的Cougar EVO集合了許多YXLON的革新技術(shù) – FeinFocus X射線(xiàn)管技術(shù);高功率靶技術(shù),精細(xì)校準(zhǔn),高壽命平板探測(cè)器以及穩(wěn)定的操作臺(tái)系統(tǒng),這使得Cougar EVO有能力生成高精度的二維和三維圖像。

除了優(yōu)秀的成像外,通過(guò)Cougar EVO您能夠獲得一種更精簡(jiǎn)、友好易用的操作,以及直觀的FGUI – Feinfoucs圖形用戶(hù)交互界面 – 軟件,以及各種自動(dòng)化體驗(yàn)。一鍵操作功能使手動(dòng)檢測(cè)變得更容易,同時(shí)教學(xué)模式使編寫(xiě)復(fù)雜的自動(dòng)進(jìn)程變的簡(jiǎn)單,這一功能會(huì)引導(dǎo)你完成整個(gè)操作步驟,并提供可重復(fù)的,可靠的結(jié)果,以及自動(dòng)生成的檢測(cè)報(bào)告。

Cougar EVO 還能通過(guò)選配的microCT模塊升級(jí)成CT系統(tǒng),使用YXLON QuickScan模塊,系統(tǒng)能夠?qū)z測(cè)樣本輕松完成快速的三維CT掃描檢測(cè)。


產(chǎn)品特性

使用開(kāi)放式X射線(xiàn)管&平板數(shù)字探測(cè)器,成像清晰

獨(dú)有的樣品旋轉(zhuǎn)及傾斜模塊,是失效分析的強(qiáng)有力工具

全新FGUI軟件可提供CNC自動(dòng)檢測(cè),全自動(dòng)完成BGA檢測(cè)與Void檢測(cè)

設(shè)備可直接升級(jí)到CT-3維斷層掃描系統(tǒng),節(jié)約成本


產(chǎn)品應(yīng)用

  • SMT和PTH封裝

  • 印刷電路板

  • IGBT

  • 晶圓檢測(cè)

  • 三維集成電路

  • 傳感器

  • MEMS和MOEMS

  • TSV


規(guī)格參數(shù)

首次成像時(shí)間

~ 10 s

重新配置時(shí)間

< 60 s

μCT掃描時(shí)間

~ 7 s

μCT重建時(shí)間

~ 60 s

micro3Ds掃描時(shí)間

~ 20 s

micro3Ds重建時(shí)間

~ 20 s

系統(tǒng)窗口

380 mm x 200 mm

最大監(jiān)測(cè)尺寸

310 mm x 310 mm (12”x 12)

最大樣品尺寸

440 mm x 550 mm (17 x 21)

幾何放大倍數(shù)

2000

總計(jì)放大倍數(shù)

256000

物理尺寸(L/W/H

1,100 / 1,050 / 2,200 mm

重量

~ 1,450 kg


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