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量子和CryoCMOS:利用先進(jìn)的測試與測量工具實現(xiàn)計算的未來

發(fā)表時間:2024-03-01 16:25作者:DeGrave, Boiko來源:FormFactor

產(chǎn)品:4K低溫探針臺


先進(jìn)的計算和量子計算設(shè)備需要處理器本身的低溫條件,以及將微波信號驅(qū)動到處理器的控制芯片。這些先進(jìn)的器件通常包括鈮或鋁超導(dǎo)電路,其支持芯片基于低溫兼容的CMOS結(jié)構(gòu)。將這項新技術(shù)從研發(fā)階段帶出實驗室,進(jìn)入工程規(guī)模生產(chǎn),并最終實現(xiàn)批量生產(chǎn),需要專門的工具來測試、測量和部署先進(jìn)設(shè)備,所有這些都在低于 4K 的環(huán)境中進(jìn)行。主要瓶頸包括耗時的引線鍵合、設(shè)備冷卻前昂貴的封裝工藝以及稀釋制冷機(jī)的冷卻時間長。

FormFactor是量子計算開發(fā)人員的領(lǐng)先推動者,擁有一套低溫測試和測量工具以及部署解決方案。我們討論了一個客戶案例研究,該案例研究在SFQ電路上實施低溫晶圓探測,以在數(shù)小時內(nèi)獲得統(tǒng)計數(shù)據(jù)集,否則需要數(shù)周或數(shù)月的時間,一種用于快速芯片測試的新工具,該工具利用低溫高密度MEMS探頭,可在2K以下進(jìn)行光子學(xué)探測,以及在毫開爾文稀釋冰箱低溫恒溫器中部署量子器件與探針插座接口。



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